機(jī)房線路終端障礙

如果障礙發(fā)生在終端機(jī)房?jī)?nèi)，在障礙端測(cè)試時(shí)，由于OT-金聯(lián)宇電線DR儀表凈化不出規(guī)整曲線，在對(duì)終端測(cè)試可以發(fā)現(xiàn)障礙纖芯測(cè)試曲線正常。為精確定位，需要加一段能避開(kāi)儀表盲區(qū)的尾纖，一般長(zhǎng)度不少于500m，先精確測(cè)出尾纖長(zhǎng)度，再接入障礙光纖測(cè)試。

部分系統(tǒng)阻斷障礙金聯(lián)宇電線

如果障礙是某一系統(tǒng)障礙，在排除設(shè)備故障的前提下，精確調(diào)m.027sofa.cn整OTDR儀表的折射率、脈寬和波長(zhǎng)，使之與被測(cè)纖芯的參數(shù)相同，盡可能減少測(cè)試誤差。隨后再將測(cè)出的距離信息與維護(hù)資料核對(duì)，看障礙點(diǎn)是否在接頭處。

若通過(guò)OTDR曲線觀察障礙點(diǎn)有明顯的菲涅爾反射峰(菲涅爾反射是瑞利散射的特例，它是在光纖的折射率突變時(shí)出現(xiàn)的特殊現(xiàn)象)，與資料核對(duì)和某一接頭距離較近，可初步判斷為盒內(nèi)光纖障礙(光纖盒內(nèi)斷裂多為鏡面性斷裂，有較大的菲涅爾反射峰)。修復(fù)人員到現(xiàn)場(chǎng)后，可先與機(jī)房人員進(jìn)一步判斷，然后進(jìn)行處理。金聯(lián)宇電線

若障礙點(diǎn)與接頭距離相差較大，則為纜內(nèi)障礙。這類障礙隱蔽性較強(qiáng)，如果定位不準(zhǔn)，盲目查找可能會(huì)造成不必要的人力和物力浪費(fèi)，如直埋光纜大量土方開(kāi)挖、架空光纜摘掛大量的掛鉤等，會(huì)延長(zhǎng)障礙歷時(shí)。這類障礙可采用如下方式精確判定障礙點(diǎn)。金聯(lián)宇電線

用OTDR儀表精確測(cè)試障礙點(diǎn)至鄰近接頭點(diǎn)的相對(duì)距離(纖長(zhǎng))，將測(cè)試的纖長(zhǎng)換算成光纜長(zhǎng)度(皮長(zhǎng))，再將光纜皮長(zhǎng)換算成障礙點(diǎn)的成長(zhǎng)尺碼，即可精確定位障礙點(diǎn)位置。具體算法如下：金聯(lián)宇電線

(1)纖長(zhǎng)換算成皮長(zhǎng)La=(S1-S2)/(1+P)。式中La為光纜皮長(zhǎng)；S1為測(cè)試的相對(duì)距離長(zhǎng)度；S2為光纜接頭盒內(nèi)的單側(cè)盤留長(zhǎng)度，一般取0.6~1.0；P為該光纜的絞縮率，因光纜結(jié)構(gòu)不同而異，可用同型號(hào)的備用光纜進(jìn)行測(cè)試，也有廠家提供該項(xiàng)指標(biāo)。P=(Sa-Sb)/Sb,Sa為單盤光纜的測(cè)試?yán)w長(zhǎng)；Sb為單盤光纜標(biāo)記的皮長(zhǎng)尺碼長(zhǎng)度。金聯(lián)宇電線

(2)光纜障礙點(diǎn)皮長(zhǎng)尺碼的計(jì)算Ly=Lb±La。式中Ly為障礙點(diǎn)的皮長(zhǎng)尺碼值；Lb為鄰近接頭點(diǎn)的盒根光纜皮長(zhǎng)尺碼，+、-符號(hào)的選擇可以根據(jù)光纜的布放端別確定。確定了Ly的值，即可根據(jù)資料確定障礙點(diǎn)的具體位置。采用這種方法可以減少由于工程資料不準(zhǔn)、儀表和光纖的折射率偏差等原因造成的測(cè)試誤差，避免長(zhǎng)距離核算光纜長(zhǎng)度，測(cè)試結(jié)果較為準(zhǔn)確。實(shí)踐證明這種方法簡(jiǎn)單有效。金聯(lián)宇電線

光纜全阻障礙金聯(lián)宇電線

對(duì)于光纜線路全阻障礙，查找較為容易，一般為外力影響所致，可利用OTDR測(cè)出障礙點(diǎn)與局(站)間的距離，結(jié)合維護(hù)資料，確定障礙點(diǎn)的地理位置，指揮巡線人員沿光纜路由查看是否有建設(shè)施工、架空光纜是否有明顯的拉傷等，一般可找到障礙點(diǎn)。若無(wú)法找到就需要用上面介紹的方法進(jìn)行精確計(jì)算，確定障礙點(diǎn)。

光纖衰耗過(guò)大引起的障礙

用OTDR測(cè)試系統(tǒng)障礙纖芯，如果發(fā)現(xiàn)障礙是衰耗空變引起的，可基本判定障礙點(diǎn)位于某接頭處，多是由于彎曲損耗造成的。盒內(nèi)余留光纖盤留不當(dāng)或熱縮管脫落等形成小圈，使余纖的曲率半徑過(guò)小。另外，接頭盒進(jìn)水也可能造成接頭處障礙。打開(kāi)接頭盒后，可進(jìn)一步判斷，將正常纖芯繞在手指上，使其曲率半徑過(guò)小，此時(shí)用OTDR測(cè)試(1550nm)該處會(huì)有一大衰耗點(diǎn)，若該衰耗點(diǎn)與障礙光纖衰耗位置一致，則障礙點(diǎn)即為該點(diǎn)。然后再仔細(xì)查看障礙光纖有無(wú)損傷或盤小圈，若有小圈將其放大即可，否則進(jìn)行重接處理。